光学薄膜透反射率的常用测量方法光学薄膜透、反射率的常用测量方法薄膜透射率和反射率的测量单色仪型分光光度计原理原理双光路测试干涉型光谱分析系统光谱仪测试一般步骤偏振测量光源为部分偏振光时，薄膜偏振特性的测量具体测量中的一些问题对光源的稳定性以及系统的稳定性要求极高；首先不放样品，测出100％透射的光谱信号；Hitachi4100透射率和反射率是光学薄膜器件的最基本的光学特性，因此薄膜反射率和透射率测试是光学薄膜的基本测试技术；透射率和反射率是光学薄膜器件的最基本的光学特性，因此薄膜反射率和透射率测试是光学薄膜的基本测试技术；光源：稳压电源、可见(钨丝灯或卤钨灯)、紫外(氙灯)、红外(卤钨灯);1％，而激光高反射膜要求反射率在高于99％的范围内能够有优于0.首先不放样品，测出100％透射的光谱信号；偏光棱镜＋样品台=入射角可变的多角度透射与反射测试系统；透射率和反射率是光学薄膜器件的最基本的光学特性，因此薄膜反射率和透射率测试是光学薄膜的基本测试技术；偏光棱镜＋样品台=入射角可变的多角度透射与反射测试系统；激光器的谐振腔由一块全反射镜和一块半反半透的镜(输出镜）构成；单色仪：由色散原件、狭缝机构以及色散原件的扫描驱动；进行样品测试参数设定；加起偏器T=(Tp+Ts)/2空气中某些成分的吸收带影响：二氧化碳吸收，方法是样品室充氮；进一步求得各自的值单次反射时参考样品反射率影响测试精度；空气中某些成分的吸收带影响：二氧化碳吸收，方法是样品室充氮；空气中某些成分的吸收带影响：二氧化碳吸收，方法是样品室充氮；此反射测试系统为小角度的斜入射系统。单色仪：由色散原件、狭缝机构以及色散原件的扫描驱动；1％，而激光高反射膜要求反射率在高于99％的范围内能够有优于0.1％，而激光高反射膜要求反射率在高于99％的范围内能够有优于0.1％，而激光高反射膜要求反射率在高于99％的范围内能够有优于0.1％，出射激光的强度改变10％，因此可以通过出射激光强度的变化来测定反射镜的反射率；薄膜透射率与反射率主要是采用光谱测试分析仪进行测试；需要2次测量，测量速度慢；偏光棱镜＋样品台=入射角可变的多角度透射与反射测试系统；空气中某些成分的吸收带影响：二氧化碳吸收，方法是样品室充氮；激光器的谐振腔由一块全反射镜和一块半反半透的镜(输出镜）构成；此反射测试系统为小角度的斜入射系统。具体测量中的一些问题V-W型测试：参考样品先放于位置a处，测试信号I1；透射率和反射率是光学薄膜器件的最基本的光学特性，因此薄膜反射率和透射率测试是光学薄膜的基本测试技术；光谱分析测试系统-反射率的测量光谱分析测试系统-反射率的困难光谱分析测试系统-单次反射法测量反射率光谱分析测试系统-多次反射法测量反射率样品的反射率为：利用激光谐振腔测试激光高反射镜的反射率分光光度计中影响测量的因素：分光光度计中影响测量的因素：具体测量中的一些问题入射光位置偏移带来测量的问题入射光位置偏移带来测量的问题测自然光的倾斜入射透过率，由于入射光偏振态的问题带来测量问题突跳现象突跳现象产生的原因这种现象一般都出现在倾斜入射的情况下偏振的影响偏振光在可见光和近红外光的差异光斑位置的影响光谱透射、反射特性是光学薄膜器件最基本的光学特性，因此光谱仪也是薄膜器件检测中最常用到的检测设备。光谱测试分析时一定要仔细考虑样品的形状、大小、光谱特性等对测试结果的影响。感谢观看