嵌入式系统教案提纲嵌入式系统的软硬件框架嵌入式系统的开发步骤嵌入式系统的开发步骤嵌入式系统的开发步骤JXARM9-2410教学系统的硬件组成S3C2410X内部结构图S3C2410X片上资源S3C2410X特性S3C2410X的引脚分布图S3C2410X的存储器映射总线控制信号SDRAM/SRAMNANDFlashLCD控制信号中断控制信号DMA控制信号UART控制信号ADCIIC-BUS控制信号IIS-BUS控制信号触摸屏接口控制信号USB主接口信号USB从接口信号SPI接口信号GPIOTIMER/PWM控制信号复位和时钟信号JTAG测试逻辑4、JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能IIC总线是一种用于IC器件之间连接的二线制总线。它具有低功耗、大容量、擦写速度快、可整片或分扇区在系统编程（烧写）、擦除等特点，并且可由内部嵌入的算法完成对芯片的操作，因而在各种嵌入式系统中得到了广泛的应用。SDRAM接口电路设计－57V561620引脚分布可选，方便调试和测试，一般都加上。1、有很多厂家均生产LDODC-DC转换芯片，如Maxim、Linear、Sipex、TI、Microchip等；S3C2410X的引脚信号描述TE28F128J3AV电压即可完成在系统的编程与擦除操作，通过对其内部的命令寄存器写入标准的命令序列，可对Flash进行编程（烧写）、整片擦除、按扇区擦除以及其他操作。3通道UART、1个多主I2C总线控制器、1个IIS总线控制器；2、一般将数字电源和模拟电源分别供电；与Flash存储器相比较，SDRAM不具有掉电保持数据的特性，但其存取速度大大高于Flash存储器，且具有读/写的属性，因此，SDRAM在系统中主要用作程序的运行空间，数据及堆栈区。复位电路的nRESETV），按下按钮后变为低电平，按钮松开后应恢复到高电平1、JTAG(JointTestActionGroup，联合测试行动小组)是一种国际标准Programmable在系统编程）功能，如对FLASH器件进行编程等。主时钟及USB时钟滤波S3C2410X的引脚信号描述芯片及引脚分析最小系统简介最小系统框图电源电路-概述电源电路-考虑的因素电源电路-需求分析电源电路-芯片选型电源电路-参考电路时钟电路时钟电路用于向CPU及其它电路提供工作时钟，在该系统中，S3C2410X使用无源晶振，晶振的接法如下图所示4、JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能1、JTAG(JointTestActionGroup，联合测试行动小组)是一种国际标准芯片引脚主要有如下几种类型：S3C2410X的引脚主要分为如下几类，即：数字输入（I）、数字输出（O）、数字输入/输出（I/O）、模拟输入/输出S3C2410X的引脚信号描述用示波器观测，晶振的输出应为12MHz5、通过JTAG接口，可对芯片内部的所有部件进行访问，因而是开发调试1、一般是多电源系统，I/O一般为3.目前JTAG接口的连接有两种标准，IIC接口电路设计－IIC接口电路SDRAM接口电路设计－57V561620引脚分布在本实验系统中，外扩一片KS24C08作为IIC存储器。JTAG调试接口电路-20针接口及定义复位电路JTAG调试接口电路JTAG调试接口电路-14针接口及定义JTAG调试接口电路-20针接口及定义JTAG接口电路设计－接口电路SDRAM接口电路设计－SDRAM简介SDRAM接口电路设计－SDRAM选型SDRAM接口电路设计－57V561620引脚分布最小系统的设计SDRAM接口电路设计－SDRAM接口电路FLASH接口电路设计－FLASH简介FLASH接口电路设计－FLASH选型FLASH接口电路设计－TE28F128J3A引脚分布FLASH接口电路设计－TE28F128J3A引脚信号描述FLASH接口电路设计－FLASH接口电路S3C2410X扩展系统串口接口电路设计－串口简介串口接口电路设计－串口芯片选型串口接口电路设计－SP3232E引脚分布串口接口电路设计－串口接口电路IIC接口电路设计－IIC简介IIC接口电路设计－IIC接口电路印刷电路板设计注意事项电源质量与分配电源质量与分配同类型信号线的分布硬件调试电源、晶振及复位电路调试JTAG接口电路调试