常见图谱分析（1）接触不良这种干扰源如图1所示。其特点是干扰波位于椭圆时基的零点附近。在正负半波上对称出现，幅值相差不大。干扰在低电压时即出现。电压增大时，干扰占位区域也增大，由于叠加效果幅值增大较慢。有时在电压达到某一定数值后会完全消失。造成这种干扰的原因有：试验回路中金属对金属接触不良，塑料电线半导电屏蔽层中粒子间接触不良，电容器卷绕铝箔电极与插接片接触不良等。（2）浮动电位物体波形见图2，特别是在电压峰值之前的正负半波部分出现。等幅值间隙不等。由于余辉，有时成对的出现，有时图像有飘动。电压增加时，根数增加，间隙缩小，中间值不变。有时电压增加到一定值后干扰信号会消失，再降低电压时，又会重新出现。起因：金属或碳质导体之间的间隙放电。它可以发生在试样上或测试回路中。在两个孤立的导电物之间，例如地面上处于浮动电位的多种物体间发生。（3）外部尖端电晕波形如图3，特别是仅在试验电压的一个半波中出现，位于外施电压的峰值部分，等幅值，等间距。电压增加时，放电讯号波的根数增加，但幅值总不变。起因：高压电极的尖端或边缘对空气中的放电。若干扰讯号位于椭圆时基的负关周，则尖端电晕处于高电压下，若干扰讯号位于时基椭圆的正半周，则尖端在接地部分，有时也可能高压、接地部分都有尖端电晕放电，则时基椭圆的正负半周就出现两组讯号。（4）液体介质中的尖端放电波形见图4，特别：在试验电压正负半周峰值位置均有一组讯号，同一组讯号等幅值，等间隔，一组中间值较大的讯号先出现，随电压增加值也增大。一组中间值小的讯号其幅值不随电压变化。起因：在绝缘液体中发生了尖端或边缘电晕放电。或一组大的讯号出现在正半周，则尖端位于高压部分；若它出现在负半周，则尖端处于接地部分。（5）继电器，接触器的动作干扰讯号波形见图5，特点：在时基椭圆上干扰讯号波形分布不规则，间隙地出现，且同试验电压大小无关。起因：闪光灯，热继电器，接触器和各种火花试验器或有火花放电的记录器动作时造成。（6）可控硅元件干扰讯号波形见图6，特点：干扰讯号在时基椭圆上之位置固定，每一元件产生一个独立的高频脉冲讯号。电路接通，电磁耦合效应增强时，讯号幅值增加，也可能发生波形展宽、相移，从而在时基上占位增加。起因：供电网络中有可控硅器件在运行。干扰的大小同所用可控硅器件的功率直接有关。（7）异步电机干扰波形见图7。特点：在时基椭圆上正负半周波形出现对称的二组讯号，且沿扫描时基逆时针方向移动。起因：异步电机运行时产生的干扰讯号耦合到检测回路中来。（8）萤光灯干扰波形见图8。特点：在椭圆时基上出现栏栅状幅值大致相等的脉冲，并伴有正负半波时对称出现的二簇脉冲组。（9）电动机干扰波形见图9。特点：沿椭圆时基均布，等幅值每一个单个讯号或“山”字形。起因：带换向器的电动机如风扇、电吹风运转时所发出的干扰讯号。（10）无线电干扰干扰波形见图10，特点：沿整个时基椭圆分布的幅值有调制的高频正弦波。起因：高频电力放大器，无线电话、广播话筒等。（11）中高频工业设备干扰波形见图11。特点：讯号在时基椭圆上连续发生，但仅在半周内出现。起因：感应加热装置及频率接近局部放电检测频率的超声波发生器等。（12）磁饱和产生的谐波干扰波形见图12。特点：在时基椭圆正负半波上对称出现一对谐波振荡讯号，讯号幅值随电压增加而增加，电压除去，讯号消失。讯号稳定，能重复再现。起因：试验系统中铁芯设备（试验变压器，并联或串联电抗器，滤波电抗器，匹配变压器，调压变压器）磁饱和时产生的谐振讯号。（13）电极在电场方向运动干扰波形见图13。特点：仅在时基椭圆的半周中出现二个讯号脉冲，它们相对于峰值点对称分布。起始点该二讯号很靠近，随电压增大，二者逐渐分开，且有可能产生新的讯号脉冲对。起因：电极（尤其是金属箔电极）在电场作用下运动。（14）介质表面放电干扰讯号波形见图14。特点：放电讯号出现在试验电压峰值之前。正负半周中都有，而且幅值基本相等。讯号幅值和位置有随机性变化。开始时，放电讯号是可分辨的，到一定电压值后便难以分辨。起因：二个接触的绝缘导体之间介质表面上的，或介质表面上切向场强较高的区域发生放电。（15）漏电痕迹和树枝波形特点：讯号与一般典型的图像不符合，波形呈不规则，不确定的图像，与电压有关。起因：脏污绝缘中泄漏，绝缘局部过热致的碳痕迹或电树枝足道等。上述有些图像，如（4）、（13）、（14）、（15）等也可能即属试品本身的缺陷。（15）则为介质内部放电之图像。