PAGE1PAGE37STATISTICALPROCESSCONTROL(SPC)(统计制程管制)管制图之选用量测系统（量具之变异在可允许之范围内）品质之决定进料检验完工检验制程能力分析双边规格单边规格（品质特性质）计量值从←X，σ←S计数值P←PCaCpCpkP(不良率)量测系统品质之决定制程管制制程能力分析品质特性质计量值从-X-R,X-6,X-R,X-Rm计数值-Pm,P,C,U,D新速管制图雅式管制图CaCpCpkP(不良率)不同单位之品质比较，使用Cv（变异系数）=S/X（或同一单位，但不同品质特性质）以管制图进行制程能力分析一组数据之变化情形，除了可以用图形法来表示外，数量化之描述亦以提供有用之情报。数据之量化表示有很多种，常用的有平均数（mean）、中位数（median）、众数（mode）、变异数（variance）、标准差（standarddeviation）。平均数假设X1，X2，…，Xn为样本中之观测值，样本数据之集中趋势可由样本平均数来衡量，样本平均数定义为变异数变异数是用来衡量数据之散布情形。样本变异数S2为S2=计数值管制图不良率管制图（pchart）CLp=UCLp=LCLp=不良数管制图(pnchart)CLpn=UCLpn=LCLpn=(σpn=)3．缺点数管制图（cchart），样本大小相同CLc=UCLc=LCLc=4．单位缺点数（uchart），样本大小不相同CLu=UCLu=LCLu=计量值管制图管制图管制图类别群体之μ及σ未知时群体之μ及σ已知时平均值管制图全距管制图CLR=d2σUCLR=D2σLCLR=D1σ-S管制界限公式图别群体情况未知群体情况已知平均值管制图CLX=μUCLX=μ+AσLCLX=μ-Aσ标准差管制图CLS=C2σUCLS=B2σLCLS=B1σ管制图图别群体情况未知群体情况已知中位值管制图CLX=μ全距管制图CLR=d2σUCLR=D2σLCLR=D1σX-Rm管制图X管制图管制图机遇原因之变异（commoncause）非机遇原因之变异（specialcause）大量之微小原因所引起。不管发生何种之机遇原因，其个别之变异极为微小。几个较为代表性之机遇原因如下：原料之微小变异。机遇之微小振动。机器测定时不十分精确之作法。实际上要除去制程上之机遇变异原因，是件非常不经济之处置。一个或少数几个较大原因所引起。任何一个非机遇原因，都可能发生大之变异。几个较为代表性之非机遇原因如下：原料群体之不良。不完全之机遇调整。新手之作业员。非机遇原因之变异不但可以找出其原因，并且除去这些原因之处置，在经济观点上讲常是正确者。管制图之选定原则管制图之选定资料性质？资料是不良数或缺点数？样本大小n≥2?中心线CL之性质？n是否一定？单位大小是否一定？n是否较大？X―σ图X―R图X―Rm图eq\o(\s\up8(~),X)―R图pn图p图C图u图计量值计数值n≥2n=1不良数缺点数一定不一定一定不一定eq\o(\s\up8(~),X)Xn=2~50<n<25管制图之比较优点缺点计量值管制图用于制程之管制，甚灵敏，很容易调查事故发生之原因，因此可以预测将发生之不良状况。能及时并正确地找出不良原因，可使品质稳定，为最优良之管制工具。在制造成过程需要经常抽样并邓以测定以及讲算，且需点上管制图，较为麻烦而费时间。计数值管制图只有生产完成后，才抽本，将其区分为良品与不良品，所需数据，能以简单方法获得之。对于工厂整个品质情况了解非常方方便。只靠此种管制图，有时无法寻求不良之真正原因，而不能及时采取处理措施，而延误时机。管制图之绘制流程（步骤）决定管制项目标准化搜集数据绘制解析用管制图解析安定状态？绘制直方图满足规格？管制用管制图追求、去除异常原因以达安定状态。检讨机械、设备等等提升制程能力满足不满足安定状态非安定状态检定规则一：有单独一个点子，出现在三个标准差区域之外者。（有一点落在管制界限之外者）。如图22。UCLCL+3σ+2σ+1σA区B区C区图22检定规则二：连续三点之中有两点落在A区或甚至于A区以外者。（在中心线之同侧三个连续点中有两点出现