PAGE\*MERGEFORMAT14材料分析方法习题选择题1.M层电子回迁到K层后，多余的能量放出的特征X射线称（B）A.Kα；B.Kβ；C.Kγ；D.Lα。2.当X射线发生装置是Cu靶，滤波片应选（C）A．Cu；B.Fe；C.Ni；D.Mo。3.当电子把所有能量都转换为X射线时，该X射线波长称（A）A.短波限λ0；B.激发限λk；C.吸收限；D.特征X射线4.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（D）A.光电子；B.二次荧光；C.俄歇电子；D.（A+C）5.最常用的X射线衍射方法是（B）。A.劳厄法；B.粉末法；C.周转晶体法；D.德拜法。6.射线衍射方法中，试样为单晶体的是（D）A、劳埃法B、周转晶体法C、平面底片照相法D、A和B7.晶体属于立方晶系，一晶面截x轴于a/2、y轴于b/3、z轴于c/4，则该晶面的指标为（B）A、(364)B、(234)C、(213)D、(468)8.立方晶系中，指数相同的晶面和晶向（B）A、相互平行B、相互垂直C、成一定角度范围D、无必然联系9.晶面指数（111）与晶向指数（111）的关系是（C）。A.垂直；B.平行；C.不一定。10.在正方晶系中，晶面指数{100}包括几个晶面（B）。A.6；B.4；C.2D.1；。11.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是（B）A.X射线透射学；B.X射线衍射学；C.X射线光谱学；D.其它12、对于简单点阵结构的晶体，系统消光的条件是（A）A、不存在系统消光B、h+k为奇数C、h+k+l为奇数D、h、k、l为异性数13、立方晶系{100}晶面的多重性因子为（D）A、2B、3C、4D、614、洛伦兹因子中，第一几何因子反映的是（A）A、晶粒大小对衍射强度的影响B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响C、衍射线位置对衍射强度的影响D、试样形状对衍射强度的影响15、洛伦兹因子中，第二几何因子反映的是（B）A、晶粒大小对衍射强度的影响B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响C、衍射线位置对衍射强度的影响D、试样形状对衍射强度的影响16、洛伦兹因子中，第三几何因子反映的是（C）A、晶粒大小对衍射强度的影响B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响C、衍射线位置对衍射强度的影响D、试样形状对衍射强度的影响17、对于底心斜方晶体，产生系统消光的晶面有（C）A、112B、113C、101D、11118、对于面心立方晶体，产生系统消光的晶面有（C）A、200B、220C、112D、11119、热振动对x-ray衍射的影响中不正确的是（E）A、温度升高引起晶胞膨胀B、使衍射线强度减小C、产生热漫散射D、改变布拉格角E、热振动在高衍射角所降低的衍射强度较低角下小20、衍射仪的测角仪在工作时，如试样表面转到与入射线成30度角时，计数管与入射线成多少度角?（B）A.30度；B.60度；C.90度。21、不利于提高德拜相机的分辨率的是（D）。A.采用大的相机半径；B.采用X射线较长的波长；C.选用大的衍射角；D.选用面间距较大的衍射面。22、德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是（C）A、正装法B、反装法C、偏装法D、以上均可23、样品台和测角仪机械连动时，计数器与试样的转速关系是（B）A、1﹕1B、2﹕1C、1﹕2D、没有确定比例24、关于相机分辨率的影响因素叙述错误的是（C）A、相机半径越大，分辨率越高B、θ角越大，分辨率越高C、X射线波长越小，分辨率越高D、晶面间距越大，分辨率越低25、粉末照相法所用的试样形状为（C）A、块状B、分散C、圆柱形D、任意形状26、低角的弧线接近中心孔，高角线靠近端部的底片安装方法为（A）A、正装法B、反装法C、偏装法D、任意安装都可27、以气体电离为基础制造的计数器是（D）A、正比计数器B、盖革计数器C、闪烁计数器D、A和B28、利用X射线激发某种物质会产生可见的荧光，而且荧光的多少与X射线强度成正比的特性而制造的计数器为（C）A、正比计数器B、盖革计数器C、闪烁计数器D、锂漂移硅检测器29、测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常用方法是（C）。A.外标法；B.内标法；C.直接比较法；D.K值法。30、X射线物相定性分析时，若已知材料的物相可以查（C）进行核对。A.哈氏无机数值索引；B.芬克无机数值索引；C.戴维无机字母索引；D.A或B。31、PDF卡片中，数据最可靠的用（B）表示A、iB、★C、○D、C32、PDF卡片中，数据可靠程度最低的用（C）表示A、iB、★C、○D、C33、将所需物相的纯物质另外单独标定，然后与多