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半导体存储器实验.doc

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半导体存储器实验一.实验目的1.随机存储器RAM的工作特性及使用方法2.半导体存储器的存储和读出数据的过程和工作原理。3.解半导体存储器线路的定时要求。二.实验设备及器材配置1.计算机组成原理实验仪。实验线路器件包括:数据输入开关SW、两片74LS161(PC)、一片锁存器74LS273、一片静态存储器6116。2.导线。三.实验内容1.实验内容实现静态RAM的读写操作。2.实验步骤:(1).初始准备置逻辑开关QD=0,QD’=0,DP=1,TJ=0,Q4与H连线,使时序电路处于单拍状态。(2).送地址将输入开关设置的地址利用各路控制信号的不同组合经总线打入地址计数器PC中再打入地址寄存器AR中。(3).写数据到RAM中借助数据输入开关置好要写入的数据,利用各路控制信号的必要组合将该数据写入RAM选定的单元中。(4).连续写将地址计数器PC中的地址加1,把数据输入开关置好的另一个数据写入RAM的下一个单元中,循环往复,共连写五个设定的数据。(5).连续读通过输入开关设置刚写入RAM的数据区首址,送地址,利用各路控制信号的必要组合将该单元内容读出,将地址加1,读下一个单元的内容循环往复,把连续五个单元的内容全部读出。3.实验要求(1).作好预习,掌握6116静态RAM的功能和使用方法。(2).按老师指定的单元和内容进行写和读。(3).交出完整的实验记录。四.实验原理线路半导体存储器实验原理框图如图1-3所示。图1-3半导体存储器原理框图
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